UV光檢傷模組智慧檢測裂痕 提升磁檢設備競爭力

UV光檢傷模組結合傳統機器視覺及深度學習之優勢，解決現有針對表面裂痕其螢光顯影後磁檢設備商無法智慧檢測問題，透過此AI智慧檢傷模組進行瑕疵檢測，減少人員負擔，提升國內磁檢設備競爭力。

【技術特色】
AI智慧檢測：克服傳統AOI設備問題。
可擬瑕疵複判機制：透過可疑瑕疵複判機制，可減少人員複檢負擔。

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