2026.09.29セミコンダクターとグリーン製造設備分野
シングルステーション型多機能先端パッケージ検査システム
従来の半導体パッケージ検査は、複数の検査装置を使い分けるマルチステーション方式が主流であり、1台で複数パラメータを同時に評価することは困難である。 本技術では、「顕微」「干渉」「共焦点」を統合した共通光路設計を採用し、単一ステーション・同一視野内で、非接触ナノレベル解析、パターンの重要寸法測定、多自由度座標計測等を実現した。 これにより、先端パッケージの積層位置合わせ、パターン寸法・形状、反り、コプラナリティ等、様々な検査に対応できる。