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文章名稱
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依專輯名稱關鍵字搜尋或依年份搜尋,年份輸入範例202406
作者:莊東漢、蔡志欣、李俊德、蔡幸樺
次世代LED銲線技術發展趨勢與現況
傳統電子封裝打線接合採用純金線,其與鋁墊會在接合界面反應形成大量脆性介金屬化合物,影響產品可靠度。若採用銅線取代純金線不僅有氧化問題,使封裝產品可靠度有更大風險,而且其界面介金屬化合物不易形成,亦會造成打線接合不良的疑慮。銀合金線具有成本較低、抗氧化性佳、且銲點界面介金屬化合物成長適中的優點,尤其新近開發成功具大量退火孿晶結構之銀金鈀合金線具有高可靠度及耐電遷移特性,先前報導在IC半導體封裝產品驗證之打線接合品質與純金線不相上下,其可靠度試驗結果甚至超過純金線與銅線[1],本文進一步證實此一創新退火孿晶結構之銀金鈀合金線在LED封裝應用同樣展現優異性能,更由於銀的高反射率,採用銀合金線的LED封裝產品亮度提高3.2 %,使其較IC半導體封裝之應用更增加一項優點。
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