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作者:王亘黼、董福慶、林士欽、田春林
脈衝離散注入法及原子層沉積技術之半導體薄膜製程應用
半導體製程朝向微小線寬發展,使薄膜沉積技術亦往原子等級奈米堆疊邁進,並需達到高保形性、優良均勻度、以及深入孔隙結構等特質,成為薄膜披覆重要的製程能力。本文將介紹工研院機械所開發之鍍膜設備,以沉積原子層薄膜技術,搭配脈衝離散注入方法改善膜層披覆品質;在氧化鋁(Al2O3)鍍膜條件,於每循環沉積0.69 Å厚度之速率下達到不均勻度±2.3 %良好鍍膜效果,同時透過結構應力分析驗證薄膜特性適合應用在製程中,滿足先進半導體薄膜製造之產業應用規格。
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