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依專輯名稱關鍵字搜尋或依年份搜尋,年份輸入範例202406
作者:陳柏志、鄭泗東、鄭詠仁、陳俊漢、顏鴻程、翁英哲
氮化鎵功率元件之散熱封裝技術
在本文中,為提升氮化鎵功率元件的效能,我們開發一種具有新式封裝的矽基氮化鎵高電子遷移率電晶體(GaN HEMT) 元件。為增進此元件的散熱性能,特別設計了一個具有V型凹槽的銅基板,使元件貼附在V型凹槽中,並且承載在TO-3P的導線架上。封裝結構設計在元件的周邊表面上以提升矽基板的散熱效果,並研究結構設計與製造程序對元件效能與熱阻的影響。使用紅外線熱影像儀與微拉曼光譜儀來實際量測元件之溫度分布及傳熱情形,並比較兩種量測方法的實驗結果。由實驗結果得知,此單晶片在100 V的汲極偏壓下具有22 W的功率散逸。在提升氮化鎵電晶體的散熱性能之後,將進一步使採用氮化鎵功率元件的變頻器的效率更高、體積更小,達成節能減碳的目標。
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