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機械工業雜誌
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全球寬能隙半導體設備產業的機遇與挑戰
作者
呂建興
任職單位: 工研院產科國際所
刊登日期:2025/01/01
摘要
碳化矽(SiC)作為第三類半導體材料,在電動車、5G通訊等領域潛力巨大。目前,國際大廠主導設備市場,臺灣面臨技術與成本挑戰。本文分析全球碳化矽半導體製程設備趨勢,聚焦單晶生長、薄膜沉積、精密加工與檢測等關鍵技術。針對臺灣,建議發展自主知識產權、推動產學研合作、強化國際鏈結,以提升在全球供應鏈中的競爭力,把握產業發展機遇。
Abstract
Silicon carbide (SiC), as a third-generation semiconductor material, holds great potential in fields such as electric vehicles and 5G communications. Currently, international giants dominate the equipment market, and Taiwan faces significant challenges in terms of technology and cost. This article analyzes global trends in SiC semiconductor process equipment, focusing on key technologies such as single crystal growth, thin film deposition, precision machining, and inspection. For Taiwan, it is recommended to develop independent intellectual property rights, promote industry-university-research collaboration, and strengthen international connections to enhance competitiveness in the global supply chain and seize industry development opportunities.
前言
全球碳化矽(SiC)半導體設備市場正處於快速成長階段。根據研調機構的最新數據,2023年碳化矽物理氣相傳輸(PVT)設備的開放市場規模為2.23億美元,預計到2029年將成長到4.2億美元。同時,2023年碳化矽晶圓加工設備市場為37億美元,到2029年將達到44億美元,累計商機高達300億美元 [1]。
這種高速成長主要由以下幾個因素驅動:
- 晶圓尺寸擴大: 碳化矽晶圓正從6吋向8吋過渡,以降低成本和提高產量。這一趨勢推動了新一代大尺寸晶體生長設備和加工設備的需求[4,7, 15]。
- 高溫製程需求: 碳化矽元件製造涉及多個 高溫製程步驟,如離子植入需在500°C以上進行。這對設備的耐熱性和穩定性提出了更高要求,刺激了專用高溫設備的發展。[2, 12]
- 精密材料檢測: 碳化矽晶體生長和加工過程容易產生缺陷,需要精密的材料檢測設備。這推動了非破壞性檢測技術和設備的創新[8, 16]。
地緣政治影響: 中國正積極推動碳化矽設備國產化,預計未來幾年中國的碳化矽產能將顯著成長。這一趨勢加劇了全球設備市場的競爭[1, 3]。
應用領域擴大: 碳化矽元件在電動車、5G 通訊基礎設施、再生能源等領域的應用不 斷擴大,帶動了上游設備需求的成長[2, 11, 15]。
技術創新: 新型單晶生長技術、薄膜沉積技術、精密加工技術不斷湧現,推動了設備的更新換代[6, 9, 10, 15]。
儘管成長迅速,碳化矽設備市場規模相對於傳統矽基半導體設備市場仍然較小。然而,各大設備廠商已經認識到這一市場的巨大潛力,紛紛加大研發投入,搶占市場先機。未來幾年,隨著碳化矽元件在各應用領域的滲透率不斷提高,設備市場有望保持高速成長態勢。
全球碳化矽半導體關鍵技術分析
碳化矽半導體製程設備涉及多個關鍵技術領域,每個領域都面臨獨特的挑戰和機遇。以下是對主要技術領域的詳細分析:
1. 單晶生長技術
物理氣相傳輸(PVT)法是目前碳化矽單晶生長的主流方法。主要基板供應商包括Wolfspeed、Coherent(II-VI)、TankeBlue 等[1, 7]。PVT 法的關鍵挑戰包括:
- 缺陷控制: 微管缺陷(MPD, Micropipe Defect)、螺旋差排(TSD, Threading Screw Dislocation)、刃差排(TED, Threading Edge Dislocation)、基面差排(BPD, Basal Plane Dislocation)和堆疊層錯(Stacking Faults)等是影響晶圓品質的主要因素,缺陷控制是碳化矽單晶生長的重要挑戰。因為這些缺陷會降低載子遷移率和電導率,增加漏電流,降低崩潰電壓,縮短元件壽命[7, 8]。
- 大尺寸晶體生長:8吋甚至更大尺寸晶圓的生長是未來發展趨勢,有助於降低成本。然而,隨著晶體尺寸增大,溫度場和應力場的控制變得更加困難 [4, 7]。
- 摻雜控制:精確控制摻雜濃度和均勻性對於實現高性能元件至關重要[7, 12]。未來技術發展方向包括:優化熱場設計,改進原料純化技術,開發新型缺陷抑制方法,以及探索新的晶體生長方法,如:液相法等。
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2025年01月號
(單篇費用:參考材化所定價)