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歷史雜誌

依專輯名稱關鍵字搜尋或依年份搜尋，年份輸入範例202406

作者:王利哲、劉冠志、黎世華、張耀德利用模糊控制提升卷式網印之尋邊性能

本文針對卷式（R2R）網印製程之尋邊性能提升問題做研究。由於薄膜與滾輪表面磨擦、材料脹縮等微小的擾動所引起的薄膜擾動，將會影響尋邊精度（大於100μm），使後續製程造成誤差。因此首先藉由薄膜在尋邊器載具之分析瞭解其動態行為。接著結合CompactRIO硬體與Labview軟體來設計模糊控制器，藉此達到省略建模的步驟。最後從實驗的結果顯示經由此控制器的控制量輸出不只能夠即時的抑制發生在薄膜擾動的影響，更能達到提升尋邊性能的目的，且精度規格也維持在規定範圍內。

作者:陳繼棠、陳建文、陳俊賢應用新型雷射測距校正方法於提升Roll-to-Roll量測運動平台準確度

隨著Roll-to-Roll（R2R）製程技術的精進，提升了R2R製程薄膜檢測與量測精度的需求。R2R製程薄膜的檢測與量測，主要是利用二維缺陷影像檢測技術與三維形貌量測技術來完成。方法上先透過二維影像檢測系統，將薄膜缺陷位置標記出來，再使用三維形貌量測系統，量測出薄膜缺陷的尺寸。然而二維影像檢測系統與三維形貌量測系統必須映射至同一座標系，三維系統才能準確定位至缺陷位置。定位準確度的優劣決定於運動平台的系統結構，而運動平台系統結構的優劣，又取決於移動軸的準確度。因此移動軸準確度的校正，將是提升整體R2R系統量測定位精度的關鍵，本研究即是找尋此移動軸準確度校正的方法。

此實驗是利用惠普（HP）的雷射測距儀、幾何機構件與反射鏡組，做為移動軸準確度校正的基礎工具。針對干涉光軸與移動軸行程間的平行度，定義出一套調整方法；此校正方法還考慮不同溫度與濕度環境的空氣介質，對雷射光所產生的影響因素。最後可到計算出一組移動軸補償表，藉由此補償表可以提升R2R系統量測定位精度，實驗結果並將呈現在論文中。

作者:蕭忠信、林茂吉、陳峻明卷到卷雷射掃描設備技術探討

隨著全球高功率、高精度及低維修率的雷射設備技術有長足進步，從而拓展雷射技術的應用範圍，雷射圖案技術已廣泛地應用於顯示器之電極圖案加工，本文主要針對雷射圖案製程結合捲繞式模組之相關技術主軸進行探討，期望建立台灣卷到卷雷射掃描設備相關應用技術，協助國產設備廠商提昇設備市場佔有率。

作者:林仁傑、Sean Garner軟性玻璃基板在卷對卷製程上的應用

由於輕、薄及可撓曲等特性使大家對一些高性能軟性電子例如顯示器、觸控及太陽能電池的興趣日漸提高。影響軟性電子性能及製程最佳化最重要的因素即是基板。相對其他材料，玻璃擁有多項優點，包括高穿透度、表面平整、密封性及絕佳的熱穩定性。另外，利用卷對卷連續製程的優點可以高通量（high throughput）的製作電子元件。針對這些機會，康寧正在發展可以利用卷對卷連續製程製作高效能電子的軟性玻璃基板。