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依專輯名稱關鍵字搜尋或依年份搜尋，年份輸入範例202406

作者:周森益、張玉姍、莊凱評影像式光學特性量測技術

隨著LED在顯示器及照明應用蓬勃地發展，對LED品質進行高速且精確地量測也有迫切之需求。本論文我們將基於影像式光譜技術提出幾種新的方法測試LED的光學性質。一是針對晶圓上LED量測設計，使用高解析度影像式光譜儀架構。另外一種形式是針對LED背光模組設計，採用光纖多通道光譜儀架構。符合CIE規範之LED光學特性量測系統，包含色度及發光強度量測，皆已經證實符合工業應用之需求。