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歷史雜誌

依專輯名稱關鍵字搜尋或依年份搜尋，年份輸入範例202406

作者:李韋辰、張津魁、林毓庭、江博通太陽能晶片表面隨機紋路瑕疵檢測

太陽能是現代主要再生電力來源之一，而多晶太陽能電池的製造成本與品質主導了整個市場的需求，太陽能晶片表面的品質決定了太陽能電池的轉換效率。多晶太陽能晶片表面晶格，無論是大小方向位置都呈現隨機的分布，且在不同的光源下，顏色變化也完全不同，使得太陽能晶片在影像中顯示隨機性紋路以致表面瑕疵檢測困難度增加。傳統的小波轉換方法只對單一小波解析階層進行分析，因此無法直接應用於多晶太陽能晶片此種複雜的晶格紋路，本研究提出以小波轉換為基礎的隨機性紋路檢測技術，將小波轉換應用於太陽能晶片影像上，觀察不同的小波解析階層間呈現的小波能量特徵，在瑕疵特徵與正常多晶太陽能晶片晶格特徵之間的差異，提出可有效區分模糊瑕疵與銳利背景晶格紋路的演算法，實驗結果顯示可偵測多晶太陽能晶片上的指紋、髒污與鋸痕瑕疵。