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歷史雜誌

依專輯名稱關鍵字搜尋或依年份搜尋，年份輸入範例202406

作者:張隆武、方彥博、劉建聖、陳昱達、林威辰雷射源微型精密構裝與檢測技術應用

本研究提出一款新型非接觸式光學量測系統，用於雷射源微型精密構裝線性位移平台六自由度誤差量測，相較於市售光學量測儀器，如雷射干涉儀與自動視準儀等，此量測系統具有同時量測線性軸六自由度誤差和低成本的優勢。整體量測系統係由一個雷射源、兩個立方體分光鏡、兩個平面反射鏡及三個位置感測器所組成。利用歪斜光線追蹤理論與一階泰勒展開，建立當量測系統具有六自由度幾何誤差時的數學模型，最後建立實驗室雛型品，實驗結果顯示，本量測系統位移重複精度為±0.6 μm、角度重複精度為±0.2 arcsec，再搭配雷射干涉儀的實驗比對，實驗結果顯示整體量測系統精度在位移為±1 μm、角度為±0.2 arcsec，量測行程為6 mm。

作者:陳昱達、陳廷翰、黃宇陽五軸工具機旋轉軸幾何誤差補償與切削驗證

本文探討了五軸工具機旋轉軸幾何誤差量測補償在現代製造業中的重要性，並透過實際切削的方式驗證量測系統的準確性。然而，五軸工具機的旋轉軸由於結構複雜，容易產生各種幾何誤差，這些誤差會影響加工精度和表面品質。為解決這一問題，幾何誤差量測補償技術應運而生，通過測量旋轉軸幾何誤差並建立數學模型，實現誤差補償，提高加工精度。然而，幾何誤差補償的有效性需要通過切削驗證來確認，實際切削為確保補償效果的重要步驟。本文參考ISO10791-7 相關ISO 國際標準，實際執行切削驗證，並驗證補償後的工具機能否達到預期的加工精度，本文的研究將有助於推動五軸工具機在製造業的應用水平，推進製造技術的進步與創新。

作者:陳廷翰、陳智榮、陳昱達、陳民融、李日傑、林煒祥融合主成分分析與不確定理論之雷射干涉儀全域誤差辨識於控制器應用發展

在精密量測領域中，雷射干涉儀是確保工具機與半導體製程中位移平台達到高精度定位的重要量測設備，其量測不確定度之評估對控制器的位置補償具有關鍵影響。然而，由於機台架構差異與工廠溫控環境不一致，傳統不確定度分析方法往往僅針對各影響參數逐一分析，難以全面揭示量測數據中所隱含的「整體變異」（Structural Variability），尤其是在多變量量測情境中，各不確定度來源於不同操作條件下的交互影響亦難以被充分辨識。為突破上述限制，本研究提出一套基於主成分分析（Principal Component Analysis, PCA）的不確定度診斷方法。相較於僅分析單一參數變異的傳統做法，PCA 能整合多項量測因子，解析其對系統所造成的整體變異模式，並辨識主導不確定度的關鍵因素。此方法可更全面掌握量測系統的變動來源，為精密量測設備的最佳化設計與誤差補償策略提供科學性的決策基礎。