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機械工業雜誌
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依專輯名稱關鍵字搜尋或依年份搜尋,年份輸入範例202406
作者:張隆武、方彥博、劉建聖、陳昱達、林威辰
雷射源微型精密構裝與檢測技術應用
本研究提出一款新型非接觸式光學量測系統,用於雷射源微型精密構裝線性位移平台六自由度誤差量測,相較於市售光學量測儀器,如雷射干涉儀與自動視準儀等,此量測系統具有同時量測線性軸六自由度誤差和低成本的優勢。整體量測系統係由一個雷射源、兩個立方體分光鏡、兩個平面反射鏡及三個位置感測器所組成。利用歪斜光線追蹤理論與一階泰勒展開,建立當量測系統具有六自由度幾何誤差時的數學模型,最後建立實驗室雛型品,實驗結果顯示,本量測系統位移重複精度為±0.6 μm、角度重複精度為±0.2 arcsec,再搭配雷射干涉儀的實驗比對,實驗結果顯示整體量測系統精度在位移為±1 μm、角度為±0.2 arcsec,量測行程為6 mm。
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