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專輯名稱
文章名稱
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依專輯名稱關鍵字搜尋或依年份搜尋,年份輸入範例202406
作者:葉羿辰
透明導電膜製程設備之整合電控技術
由於LPCVD沉積的ZnO透明導電薄膜成倒金字塔狀,其形成的薄膜表面,不利後續元件製程的製作(影響界面覆蓋性與緻密度),如矽薄膜太陽電池高轉換效率的製作。因此乃於原LPCVD製程腔體旁建立(加裝/新增)一個具有離子電漿源的Loadlock腔體,除了可增加產能(Throughput)外,並可於接近大氣壓力(Atmospheric-pressure)即常壓下進行電漿表面改質(Plasma for Surface Modification)處理,希望能將LPCVD所沉積出來的ZnO薄膜,再次施以電漿作ZnO薄膜鈍化(Passivation)處理,使其表面較為圓滑平緩而利於元件的品質,故本文技術乃將兩個製程設備之整合電控技術作簡單介紹。
作者:梁沐旺、林士欽、江源遠
低壓化學氣相沉積應用技術
本文主要是介紹低壓化學氣相沉積設備與高鍍率製程技術,乃藉由氣體擴散裝置(showerhead)及前驅物氣化裝置,經製程參數的設定調整,如調控壓力、基板溫度、基板與噴灑曝氣板(showerhead)距離設定、前驅物DEZn /H2O /B2H6、鍍膜時間…等,驗證使BZO透明導電膜鍍率達120 nm/min以上時,薄膜其霧度約20 %(波長550 nm),片電阻值<10歐姆/sq,透明度80 %以上(波長400-800 nm),膜厚不均勻性小於10 %。
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