機械工業網 - 機械產業的入口網站

:::

歷史雜誌

依專輯名稱關鍵字搜尋或依年份搜尋，年份輸入範例202406

作者:張津魁、蔡雅惠、黃國唐、盧曉君非接觸式量測系統簡介

傳統在工廠內進行品質量測的方式多是使用人工進行接觸式量測，但近年來機器視覺技術逐漸發展成熟，其在自動化、智慧化生產的重要性也越來越受重視，有愈來愈多的工廠朝向使用機器視覺進行非接觸式的量測方式，本文將針對機器視覺、量測系統分析等部份進行介紹。

作者:謝伯璜、李柏毅GD&T Based之量測技術簡介

近年來科技發展迅速，各式各樣工業產品之精度要求均大幅地提高，導致加工零件的精度要求皆已提昇到微米等級。因此為了測量這些精密零件，相對地也發展出高精度的精密量測技術，進而用來測量此些精密加工的零件。因此本文將因量測原理的不同，分類介紹目前國際上常見的量測方法。

作者:鄒博年、蔡明城、謝伯璜基於點雲之即位幾何公差量測技術

近年來科技發展迅速，為滿足複雜元件與多元檢測需求，本團隊發展基於點雲之即位幾何公差量測技術。該技術導入點雲資料處理技術，並基於ASME-Y14.5M-2009全球公認標準自行研發點雲幾何公差演算法，搭配幾何公差量測介面，將整套系統應用於實際加工工件上進行四種幾何公差量測。結合高精度雷射掃描系統快速掃瞄平台，達成業界所需之產品品質及競爭力，得以取得較大的市場競爭力及較高獲利。

作者:曾聖修、王衍超、鄭元傑、李仲淇、簡瑞廷陣列微透鏡模具開發與射出成型之研究

投影機之市場隨4K超高解析度顯示器之推廣成功，逐漸覓得新的成長方向。其中方陣型透鏡陣列之開發，是雷射照明光源中關鍵元件之一。本研究為陣列微透鏡模具開發之研究，其尺寸為1111 mm、中心為採用雙面陣列微透鏡之結構6x6 mm，厚度為0.44 mm；對於光學品質而言，不只需要顧慮其殘留應力，也需要同時兼顧其成形後的翹曲量，才能確保其發光型是均勻完整的，因此模具的製作加工對位精度非常要求。

本文亦運用Moldex3D模流分析軟體針對其成形參數變更，找出優化後光學品質結果，發現其射出速度的增大，會大幅改善光程差和光彈條紋；而保壓壓力及保壓時間增加，則會改善翹曲量。綜上，改善後參數為增加射出速度、保壓壓力和時間，其光程差及翹曲量的改善幅度大約為50%，在陣列結構的位置其光彈條紋分佈也可幾乎消失。

作者:康基宏雲端能效管理方案

手機已成為世界上個人最主要的裝備之一，且幾乎都是隨身攜帶。藉由新的通訊技術，所有馬達的運轉資訊包括電壓電流及功率等都可顯示在手機上。工程師及管理者都可透過手機了解每顆馬達的運轉狀況，經過授權的人員更可藉由手機用他們的手指控制馬達運作。

作者:張隆武、方彥博、劉建聖、陳昱達、林威辰雷射源微型精密構裝與檢測技術應用

本研究提出一款新型非接觸式光學量測系統，用於雷射源微型精密構裝線性位移平台六自由度誤差量測，相較於市售光學量測儀器，如雷射干涉儀與自動視準儀等，此量測系統具有同時量測線性軸六自由度誤差和低成本的優勢。整體量測系統係由一個雷射源、兩個立方體分光鏡、兩個平面反射鏡及三個位置感測器所組成。利用歪斜光線追蹤理論與一階泰勒展開，建立當量測系統具有六自由度幾何誤差時的數學模型，最後建立實驗室雛型品，實驗結果顯示，本量測系統位移重複精度為±0.6 μm、角度重複精度為±0.2 arcsec，再搭配雷射干涉儀的實驗比對，實驗結果顯示整體量測系統精度在位移為±1 μm、角度為±0.2 arcsec，量測行程為6 mm。

作者:潘楷明、郭晨輝、林勇志、蓋震宇、廖述鐘、陳羿銘智慧量測趨勢發展與產業應用

為因應智慧機械產業發展及提升工具機附加價值及智慧自動化之發展，線上量測技術的開發是近年來的趨勢，導入線上量測功能不但可以提升生產效率，也能避免因拆裝工件而產生誤差，目前各家廠商所發展之線上量測技術已趨近成熟，若將其導入智慧機械並開發相關應用軟體，能進一步控管加工精度並減少加工錯誤；因此，本文將進行目前線上量測於工具機之量測測頭與相關應用軟體，並介紹工研院智慧機械科技中心於線上量測之應用發展。

作者:鄭雲謙、蘇哲甫、李炫奇3D點雲之幾何公差量測技術概論

近年來因為量測技術已經漸漸成熟，各式各樣的量測設備不斷的更新，更加易於使用者操作。然而因加工零件朝著越精密微小化的方向發展，以至於如何精確地得到機械幾何公差和工件資料變得更加重要，因此本文中將對目前的量測技術作簡介。

作者:傅尉恩高精密量測技術專輯主編前言

作者:陳贊仁精密量測在平面顯示器生產製程的關鍵性與應用

作者:簡瑞廷、李仲淇、林經博光學陣列結構加工與檢測技術

近年來光學陣列結構的應用越來越多，特別是LED（Light-Emitting Diode，LED）燈、投影機等產品開發。然而缺乏精確、快速的量測方法，限制了製程技術的發展。本文針對光學陣列結構的製程與檢測方式進行介紹，以實際應用案例進行說明，在導入檢測驗證方法後，陣列結構的形狀精度可達到0.5μm以內。

作者:李朱育、蔡姓賢、蔡岳哲、曹庭豪、朱俊諺單拍偏振干涉法應用於表面輪廓之量測