作者:陳柏宇、楊富程、劉定坤X光電腦斷層掃描技術之實驗驗證與探討
計量與檢測技術在工業製造中扮演關鍵角色，有助於品質控制、流程優化與產品開發。傳統檢測 多聚焦外觀，面對複雜內部結構，X 光電腦斷層掃描 (X-ray Computed Tomography, XCT) 因具非破壞性與 高解析度，成為重要工具，但XCT 量測受多種因素影響，使得系統驗證至關重要，以此確保內部三維結 構的高精度測量。針對國內XCT 校正追溯能力不足問題，依據國際VDI/VDE 2630 標準及市售設備規格， 本文發展XCT參考標準件與校正技術，透過實驗與數值分析，完成對XCT系統之量測誤差及其影響探討， 期望提升對XCT 系統驗證與檢測技術的理解，確保非破壞內層量測結果準確可靠。