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研究與發展

高深寬比交叉流場ALD製程開發 2025/03/21

 

簡介 Introductions

此解決方案提升高深寬比鍍膜品質,並以複合共腔設計減少傳輸與抽氣,節能20%,降低成本、提高良率與均勻度。

This solution enhances high aspect ratio coating quality through a composite co-chamber design that reduces transport and pumping requirements, achieving a 20% energy savings while reducing costs, increasing yield, and improving uniformity.

特色與創新 Characters and Innovations

開發高深寬比交叉流場ALD製程,建立創新關鍵模組技術,及突破國外專利壟斷而補足產業技術缺口,建構台灣半導體整機設備自主能量,可切入半導體國際供應鏈。

  • 深寬比≧ 10:1 @ ≦φ5µm孔。
  • 階梯覆蓋膜厚均勻性92%以上。
  • 多成分材料鍍膜: ≧ 3(GST、doping)。
  • 促使整機自主率達到30%→60%。
高深寬比交叉流場ALD製程開發
高深寬比交叉流場ALD製程開發

發展電漿診斷分析系統,能有效解決因設備空間限制無法檢測電漿特性之問題,更能確保其製程穩定性,進一步帶動國內半導體製程設備自主化。電漿特性量測範圍:

  • 電漿電位: -90 V to 90 V
  • 浮動電位: -90 V to 90 V
  • 電漿密度: 108 cm-3 to 1013 cm-3
  • 電子溫度: 0.1 eV to 15 eV
  • 電子能量分佈函數: 0 eV to 60 eV
  • 電子能量機率函數: 0 eV to 60 eV

應用與效益 Applications and Benefits

全球首創高深寬比交叉流場ALD鍍膜系統,建構複合電漿輔助交叉流場注入精密控制技術,達國際水準高深寬比(10:1)多元成份保形披覆奈米膜層,膜厚均勻性達97%,有效提升半導體元件密度與品質特性。

與旭宇騰精密科技合作開發ALD鍍膜設備,達成高深寬比低溫ALD及多元成分3D垂直陣列製程調控,並協助Maker/SI廠開發關鍵模組與設備,深耕工業基礎技術。


 

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